آنالیز XRF
طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس که به اختصار XRF نامیده می شود برای شناسایی عناصر شیمیایی در نمونه های مختلف استفاده می شود. این عمل با پیدا کردن پرتوهای ایکس مشخصه، که از سطح نمونه ها پس از تابش توسط پرتوهای ایکس (X-RAY) اولیه پر انرژی منتشر می شود، انجام می شود. در روش XRF، پرتو ایکس (X-RAY) به نمونه می تابد و در اثر برانگیختن اتم ها و انتقال الکترونی در لایه های مختلف اتم، پرتو ایکس ثانویه تولید می شود که با تعیین طول موج (انرژی) پرتو ایکس ثانویه که مشخصه اتم است می توان عناصر موجود در نمونه مورد نظر را شناسایی کرد. با استفاده از XRF در اکسیر تجهیز آزما می توان آنالیز عنصری را به صورت کیفی و تا حدودی کمی به خصوص در نمونه های معدنی، باستانی، زمین شناسی، کانی ها، سنگ ها، شیشه، سیمان، سرامیک ها، آلیاژهای فلزی و گوهر سنگ ها انجام داد که ردیابی عناصر از سدیم تا اورانیوم را ممکن می سازد. البته برای اندازه گیری دقیق حتی در مقادیر ناچیز (trace) می توان از دستگاه ICP OES و ICP MS موجود در اکسیر تجهیز آزما بهره برد. دقت XRF برای عناصر سنگین بیشتر است.
خروجی دستگاه XRF چیست؟
طیف خروجی در دستگاه XRF، شامل تغییر شدت بر حسب انرژی است. پیک های داخل هر طیف مربوط به فلورسانس مشخصه عنصرهای گوناگون موجود در نمونه است. در آنالیز کمی که انجام می شود همانند آنالیز EDS ترکیب درصد عناصر تشکیل دهنده نمونه نمایش داده می شود. به طور معمول برای هر عنصر، پیک K و برای عنصرهای سنگین K و L در الگو مشخص می شود.
آماده سازی نمونه در XRF چگونه است؟
وابسته به نوع نمونه، روش های آماده سازی می تواند متفاوت باشد. نمونه می تواند به صورت پودری و یا بالک باشد. در صورتیکه نیاز به تهیه LOI باشد، نمونه حتما سوزانده می شود. اما گاهی لازم است که نمونه بدون هیچ تخریبی روی آن آنالیز صورت پذیرد. پس نمونه با ابعاد مناسب و بدون آماده سازی وارد دستگاه شده و آنالیز عنصری صورت می پذیرد.
مقدار ماده مورد نیاز باید چقدر باشد؟
معمولا مقدارهای کمی از نمونه در حد 1-5 گرم نمونه مورد نیاز است.
